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安科瑞AF-HK100环保数采仪，是新一代环境监测、污染源数采仪，符合新一代国标通信标准，支持《污染物在线自动(监测)系统数据传输标准》(HJ 212-2017、HJ/T 212-2005)；产品按照工业级标准设计，针对环境监测的各种要求做了的优化，并配备丰富的通信接口，支持局域网、GPRS、CDMA、4G等，满足不同现场环境下对远程通信的要求。AF-HK100环保数采仪充分利用人工智能物联网、大数据云计算等新一代信息技术，建立动态的模型，实时污染源在线监测系统状态，实现智能感知、智能预警、智能处理、智能运维，降低企业运维成本，大幅提高企业运维和效率。
AF-HK100环保数采仪实验
GB/T 17626.2静电放电抗扰性试验3 级；
GB/T 17626.4电快速瞬变脉冲群抗扰性试验3 级；
GB/T 17626.5冲击（浪涌）抗扰性试验4 级；
纸护角组委环保的包装用品，由于其低成本，易回收等特点，实用性好等特点受到人们的青睐，近年 来，纸护角更因符合绿色、环保概念，促使纸制品包装居包装材料使用。然而，在纸包装不断发展的过程中，人们也发现了纸包装的缺点，如纸箱包装承重性差、易变形等等。面对发展中遇到的这些问题，纸护角在纸包装中逐渐崭露头角，尤其是在蜂窝纸箱包装、瓦楞纸箱包装中。在整个发展的过程中，纸护角也开始改 变它之前的形状，出现了环绕型纸护角、折弯纸护角、U型纸护角等。
增速减缓是产业常态。纸护角厂家市场进入需求增长减缓的阶段，产品导向阶段过渡到需求导向阶段，卖方市场转化为买方市场，新的经济形态要求结合市场经济、消费意识和市场需求产生新的发展模式，也迫使企业调整生产节奏和市场经营模式。节能环保是产业常态。纸护角厂家行业今年面临严厉的“环保大考”。创新决定优劣，环保决定存亡。即是说，创新决定纸护角厂家企业发展的好坏，而环保决定纸护角厂家企业命运的死活。实际上，随着机械制造的改进、工艺技术的提升，自动化、智能化程度的增强，让这个行业可以甩掉“三高”的帽子，从传统产业向现代化产业转型。 鲁达包装生产纸护角厂家，质量，服务，全新全意为客户服务。
XRF分析仪是检测ROHS卤素镀层厚度含量的仪器，采用新型的半导体SDD探测器，的提高计数率，缩减了测试时间。作为国内的XRF分析仪器制造厂商，天瑞仪器秉承精益求精的研发理念，利用现代半导体技术和计算机技术发展起来的新一代XRF测试仪EDX0B，能够的解决ROHS环保指令涉及的有害物质的快速测定。分析检出限可达1ppm；分析含量一般为1ppm到99.99％；任意多个可选择的分析和识别模型；相互的基体效应校正模型；多变量非线性回归程序；温度适应范围为15℃至30℃；电源：交流220V±5V,建议配置交流净化稳压电源；能量分辨率：160±5eV；外观尺寸： 550×416×333mm；样品腔尺寸：460×298×98mm；重量：45Kg。仪器标准配置包括：样品平台；电制冷Si-PIN探测器；检测电子电路；高低压电源；大功率X光管；计算机及喷墨打印机。
RoHS检测分析（五金工具、塑料颗粒、涂料、塑胶模具、皮革布料、电线电缆、保温杯等）
地矿与合金（铜、不锈钢等）成分分析
金属镀层（镀锡、镀锌、镀镍、镀铜、镀银、镀铑、镀钯等）的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定
黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测
主要用于RoHS指令相关行业、贵金属加工和首饰加工行业；银
行，首饰销售和检测机构；电镀行业
技术特点：
下照式：可满足各种形状样品的测试需求
准直器和滤光片：多种准直器和滤光片的电动切换，满足各种测试方式的应用平台：精细的手动平台，方便定位测试点高分辨率探测器：提高分析的准确性新一代的高压电源和X光管：性能稳定可靠，高达100W的功率实现更高的测试效率
环保测试仪产品介绍
随着欧盟ROHS环保指令的深入影响和环保发展趋势越来越严格，X射线荧光环保测试仪在电子电器行业得到广泛使用。天瑞仪器是生产环保测试仪的厂商，公司的EDX0B是利用新一代X光管和高分辨率探测器，提供激发效率和测试精度。
环保测试仪技术指标：
分析检出限可达1ppm
分析含量一般为1ppm到99.99％
任意多个可选择的分析和识别模型
相互的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
温度适应范围为15℃至30℃
电源：交流220V±5V,建议配置交流净化稳压电源
能量分辨率：160±5eV
外观尺寸： 550×416×333mm
样品腔尺寸：460×298×98mm
重量：45Kg
环保测试仪的工作原理
利用X射线荧光光谱仪，使用分析晶体分辨待测元素的分析谱线，根据Bragg定律，通过测定角度，即可获得待测元素的谱线波长：
nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）
式中 ，λ为分析谱线波长；d为晶体的晶格间距；θ为衍射角；n为衍射级次。利用测角仪可以测得分析谱线的衍射角，利用上式可以计算相应被分析元素的波长，从而获得待测元素的特息。
能量色散射线荧光光谱仪则采用能量探测器，通过测定由探测器收集到的电荷量，直接获得被测元素发出的特征射线能量：
Q=kE
式中，K为入射射线的光子能量；Q为探测器产生的相应电荷量；k为不同类型能量探测器的响应参数。电荷量与入射射线能量成正比，故通过测定电荷量可得到待测元素的特息。
待测元素的特征谱线需要采用一定的激发源才能获得。目前常规采用的激发源主要有射线光管和同位素激发源等。
为获得样品的定性和定量信息，除光谱仪外，还采用一定的样品制备技术，并对获得的强度进行相关的谱分析和数据处理。
